Sehe ich nicht ganz so.
Die größere Schärfentiefe bei kleineren Aufnahmeformaten ist jederzeit demonstrierbar, Beugungsunschärfe jedoch allenfalls nur bei forciertem Pixelpeepen. Beugung wird überbewertet...
Beugung schlägt bei allen Formaten an der gleichen Stelle zu.
x = Schärfentiefe in der Gegenstandsebene
z = laterale Auflösung in der Gegenstandsebene
λ = Wellenlänge des verwendeten Lichts
Man bestimmt z²/xλ. Wenn das größer als 2 ist, hat man keinerlei Probleme.
Zwischen 2 und 1 kommt man langsam in den Bereich, in dem Beugung der geforderten lateralen Auflösung sich in den Weg stellt.
Bei 1 ist so die Grenze erreicht.
Werte unter etwa 1 sind nicht realisierbar.
Entweder die Wellenlänge verringern (z.B. Beleuchtung mit λ = 405 nm) oder x und z anpassen, so dass z² = xλ gilt.
Das Verhältnis A = z/x gibt noch drei weitere Größen vor:
- Man nutzt A² der Photonen, die die (Flächenstrahler-)Probe verlassen.
- Nicht nur z/x ist A, sondern auch
- Das Verhältnis von Blendenradius und Abstand zwischen Gegenstand und Blendenebene ist auch A.
- Das Verhältnis zwischen Z und X, der lateralen Auflösung und der Schärfentiefe in der Bildebene ist ebenfalls A
Diese ganzen Spielchen sind unabhängig von der Sensorgröße, Brennweite, technischem Aufbau, Konvertern, etc.
Sie sind eine Eigenschaft des eingefangenen Lichts.
Nimmt z/x sehr große Werte an (so > 0,3), dann sind in den Formeln noch ein paar Korrekturen einzubauen (sin, cos und tan). Das nennt sich dann Mikroskopie.